Группа компаний “ЭМТИОН” занимается производством и поставками исследовательского лабораторного и технологического оборудования. Собственное производство компании сосредоточено в г Зеленоград (Москва). Производство компаний партнеров расположено в Российской Федерации, Республике Беларусь, Китайской Народной Республике, поставляемое оборудование не подлежит экспортным ограничениям.
Монокристальный дифрактометр с микрофокусным источником TD-5000
Система вибрационной защиты для атомно-силового микроскопа
Аналитический комплекс на базе спектрометра комбинационного рассеяния Confotec MR200
Комплект вакуумной арматуры для модернизации экспериментальной станции сверхвысоковакуумного канала вывода синхротронного излучения
Набор материалов и комплектующих для сборки «домика экспериментатора» экспериментальной станции сверхвысоковакуумного канала вывода синхротронного излучения
Поставка и ввод в эксплуатацию рентгеновского дифрактометра Tongda с опциями
Комплект оборудования и комплектующих для подготовки образцов для междисциплинарных исследований производства ООО “ЭМТИОН” позволяет подготавливать поверхность различных образцов методом плазмохимической обработки для последующих исследований, а также осаждать тонкопленочные покрытия. Комплекс ориентирована на лабораторное исследовательское и образовательное применение, а также мелкосерийное производство.
Комплект оборудования для изучения морфологии и микромеханических характеристик твердых тел в вакууме с возможностью деформации изучаемого образца.
Сканирующий оптоволоконный модуль для автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов
Платформа с системой подвода для сканирующего оптоволоконного модуля автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Ntegra Spectra с принадлежностями
Оборудование для изучения свойств наноструктурированных материалов (далее Оборудование) обеспечивает интеграцию методов атомно-силовой и оптической, в т.ч. конфокальной, микроскопии и спектроскопии, в том числе Рамановской микроскопии и спектроскопии.
Система диагностики дефектов в алмазных кристаллах
Микроскоп для инспекционного контроля полупроводниковых пластин ECLIPSE L300N
Комплект оборудования для модернизации атомно-силового микроскопа NTEGRA Prima
Атомно-силовой микроскоп Ntegra, дополненный модулями:
Поставка комплектующих для высокоточного измерительного оборудования
Поставка комплекта оборудования для монтажа и сборки образца излучателя одиночных фотонов на основе квантовых люминесцентных источников.
Поставка двойного монохроматора с нулевой дисперсией MZDD350i (Республика Беларусь)
Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA PRIMA для оснащения лаборатории «Зондовой микроскопии и физики поверхности» Саровского физико-технического института – филиала НИЯУ МИФИ
Поставка комплектующих стенда для исследования эмиссионных характеристик структур на основе диэлектрических слоев и комплекта деталей для откачного поста
Поставка и ввод в эксплуатацию зондовой нанолаборатории NTEGRA PRIMA II
Оснащение лаборатории функциональных материалов.
Поставка автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов, включая:
Поставка комплекса для учебно-исследовательской работы в области нанофизики и нанотехнологий на базе СЗМ «НаноЭдюкатор»
Поставка комплекса для подготовки поверхности кристаллов для анализа проб методами атомно-силовой микроскопии с системой оптического контроля
Поставка многофункционального комплекса подготовки и модификации поверхности материалов (МК-08), позволяющего обрабатывать поверхность различных материалов с целью подготовки и модификации поверхности методами плазмо-термической обработки (создание упрочняющих, защитных и декоративных покрытий), а также позволяющий осуществлять контроль параметров подготовленных и модифицированных поверхностей
Поставка междисциплинарного оптико-электронного комплекса исследования морфологии и физико-химических характеристик материалов и биообъектов
Поставка учебно-научного комплекса зондовой микроскопии предназначенного для микроанализа и морфологического анализа поверхности и для обучения основам нанотехнологий на основе сканирующих зондовых микроскопов.
Поставка технологической установки плазмохимического травления и осаждения для:
Оснащение лаборатории “Графеновые нанотехнологии”
Поставка технологической установки плазмохимического травления и осаждения для:
Оснащение междисциплинарной научно-образовательной лаборатории по направлению “нанотехнологии”
Работы по оснащению научно-учебной лаборатории по нанотехнологиям
Оснащение учебно-научной лаборатории нанотехнологий
Поставка междисциплинарного научно-образовательного комплекса для проектной деятельности учащихся
Поставка Электронно оптического комплекса для анализа морфологии кристаллов и проведения исследований морфологии и шероховатости широкого круга объектов методами: фазовой интерферометрии, интерферометрии белого света.
Работы по оснащению центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии»
Поставка аппаратного комплекса для проведения комплексных исследований поверхностей образцов методами зондовой микроскопии и спектроскопии.
Поставка комплекса исследований пьезоэлектрических свойств материалов.
Поставка комплектующих для сканирующего зондового микроскопа, пьезотрубки сканера.