Cистема Керр-микроскопии - ЭМТИОН
Cистема Керр-микроскопии

ЭМТИОН

Вертикальное магнитное поле до 1.8 Тл, плоскостное магнитное поле до 1.4 Тл

Описание Cистема Керр-микроскопии

 

Магнито-оптическая Керровская микроскопическая система визуализации, основанная на собственной оптической схеме и компонентах от Olympus и Soleibo, позволяет наглядно и точно исследовать пространственное распределение и временную эволюцию состояния намагниченности в магнитных материалах и устройствах. Система используется для визуализации магнитных доменов, исследования динамики магнитных материалов и спинтронных устройств, а также предназначена для тестирования и разработки таких материалов и устройств.

 

 

Многофункциональная измерительная установка

 

  • Вертикальное магнитное поле до 1.8 Тл, плоскостное магнитное поле до 1.4 Тл;
  • Множество пар DC/ВЧ-зондов;
  • Совмещение магнито-оптической визуализации и тестирования спинового транспорта;
  • Температурный диапазон: 4К–873К (подходит для визуализации жестких магнитных материалов)

 

 

Принципиальная схема

 

 

 

 

Многофункциональная система управления

 

Управление тестовыми сигналами

  • Синхронное приложение сигналов (с точностью до микросекунд): вертикальное/плоскостное магнитное поле, ток, СВЧ-сигналы;
  • Гибкая настройка параметров сигналов: форма волны, амплитуда, частота, временная задержка.

 

Обработка изображений

  • Реальное время: вычитание фонового шума;
  • Автоматическая коррекция дрейфа и вибраций.

 

Анализ сигналов

  • Отображение сигналов тока и магнитного поля в реальном времени;
  • Локальное (разрешение 220 нм) или глобальное сканирование петли гистерезиса на основе анализа Керровских изображений.

 

 

Изображения полученные с Керровской микроскопической системы

 

 

 

Магнитные домены на поверхности постоянного магнита (объемного образца NdFeB).

 

 

 

Эффекты визуализации магнитных доменов в перпендикулярно анизотропных магнитных плёнках (толщиной 1 нм)

Параметр Значение
Тип системы Многофункциональная магнито-оптическая Керровская микроскопическая система визуализации
Вертикальное магнитное поле До 1.8 Тл
Плоскостное магнитное поле До 1.4 Тл
Температурный диапазон 4К–873К (подходит для жестких магнитных материалов)
Разрешение Локальное: 220 нм
Зонды Множество пар DC/ВЧ-зондов
Синхронизация сигналов Точность: до микросекунд
Управляемые сигналы Вертикальное/плоскостное поле, ток, СВЧ-сигналы
Настройка параметров Форма волны, амплитуда, частота, временная задержка
Обработка изображений – Реальное время: вычитание фонового шума
– Автокоррекция дрейфа и вибраций
Анализ данных – Отображение тока и магнитного поля в реальном времени
– Локальное/глобальное сканирование петли гистерезиса
Оптика – Собственная оптическая схема
– Компоненты Olympus и Soleibo
Интеграция Совместимость с системами измерения спинового транспорта

Может быть полезно:

Металлографический микроскоп RX50M

Металлографический микроскоп RX50M – это передовое решение для исследования […]

Запрос цены Подробнее
Вибромагнитометр VSM-130

    Вибрационный магнитометр представляет собой высокочувствительный инструмент для […]

Запрос цены Подробнее
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (XPS)

        Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (РФЭС, XPS) […]

Запрос цены Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы