Описание Спектральные эллипсометры серии PV

Спектральный эллипсометр серии PV – это высокопроизводительный специализированный спектроскопический эллипсометр для исследований и контроля качества фотоэлектрических солнечных элементов с диапазоном длин волн, охватывающим ультрафиолетовую (УФ) и видимую ближнюю инфракрасную область (БИК). Спектроскопический эллипсометр серии PV основан на высокочувствительном блоке детектирования и программном обеспечении спектроскопического эллипсометра, используемом для для измерения параметров структуры слоя (например, толщины) и физических параметров (например, показателя преломления n, коэффициента экстинкции k или диэлектрических функций ε1 и ε2) однослойных и многослойных нанопленок, особенно для всех видов солнечных элементов. Также он может использоваться для измерения оптических свойств объемных материалов.

Cпектроскопический эллипсометр серии PV специально разработан для индустрии фотовольтаики и предназначен для измерения параметров антиотражающего слоя на солнечных элементах. Это означает, что прибор предназначен для анализа и оптимизации характеристик покрытий солнечных элементов, которые имеют решающее значение для повышения поглощения света и эффективности преобразования энергии в фотоэлектрических устройствах.

Преимущества

• Быстрое и точное измерение и анализ поляризации;
• Спектральный диапазон от ультрафиолетового до инфракрасного;
• Отбор проб в режиме пошагового скан-компенсатора;
• Широкополосный ахроматический компенсатор;
• Двухквадрантный режим измерения для устранения системных ошибок;
• Мощное программное обеспечение контроля и анализа измерений эллипсометрии;
• Программное обеспечение контроля и анализа эллипсометрии имеет встроенные базы данных материалов, включая информацию о наиболее распространенных образцах.

Особенности спектрального эллипсометра серии PV

• Усовершенствованный метод отбора проб с вращающимся компенсатором: диапазон от 0 до 360°, отсутствие мертвой зоны при измерении, устранение влияния деполяризации, вызванной шероховатой поверхностью, на результаты;
• Высокая скорость измерения полного спектра: типичное измерение полного спектра занимает менее 10 секунд;
• Чувствительность обнаружения: возможность измерения на атомарном уровне;
• Встроенная видеокамера: видеокамера для отображения зоны измерения и юстировки системы;
• Регулировка угла падения: специальная конструкция гониометра системы с возможностью установки нескольких углов падения, повышает гибкость измерений прибора, что особенно важно при работе с ультратонкими образцами или сложными образцами;
• Измерение коэффициента отражения и пропускания: измерение спектрального коэффициента пропускания и отражения образца;
• Работа в один клик: после завершения исследования образца можно провести его анализ и оценку с помощью встроенной богатой библиотеке моделей материалов.

Применения

• Структуры полупроводниковых пленочных структур: диэлектрическая пленка, металлическая пленка, полимер, фоторезист, кремний, пленка PZT, лазерный диод GaN и AlGaN, прозрачные пленки и т. д.;
• Полупроводниковые периодические наноструктуры: нанорешетки, память с изменением фазового состояния и др.;
• Исследования новых материалов и новых физических явлений: оптическая анизотропия материалов, электрооптический эффект, упруго-оптический эффект, акустооптический эффект, магнитооптический эффект, оптический эффект вращения, эффект Керра, эффект Фарадея и др.;
• Плоские дисплеи: TFT, OLED, плазменные панели, гибкие дисплеи и т. д.;
• Фотогальваника: фотогальванические материалы (такие как Si3N4, Sb2Se3, Sb2S3, CdS и т. д.), отражательная способность, измерение коэффициента экстинкции, измерение толщины пленки и шероховатости поверхности и т. д.;
• Функциональные покрытия: просветляющие, самоочищающиеся, электрохромные, зеркально-оптические покрытия, а также полимерные, масляные, Al2O3 поверхностные покрытия и обработка;

Опции

• Вакуумный насос для крепления легких и тонких образцов.
• Адсорбационный предметный столик (для работы с гибкими образцами).
• Предметный столик трех размеров на выбор: 100 мм x 100 мм, 150 мм x 150 мм, 200 мм x 200 мм.
• Micro spot (для измерения малых областей, диаметр пятна (spot) – 200 мкм).