ЭМТИОН
ПЭМ микроскоп с разрешением 0.14 нм
Просвечивающий электронный микроскоп TEM-120 – это новейшее поколение ПЭМ микроскопов, разработанное полностью в Китае, работающих на базе метода сканирующей трансмиссионной электронной микроскопии (ПЭМ, СТЭМ или с англ. scanning transmission electron microscope, STEM). ПЭМ микроскоп работают на базе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими срезами образцов и позволяет получать информацию о топографии, кристаллической структуре образца, дефектах, элементному составу и многом другом. Микроскоп TEM-120 используется при проведении исследований в R&D лабораториях, ВУЗах, научных и профильных предприятиях в полупроводниковой промышленности, биологии, материаловедении и др. областях.
ПЭМ работают на основе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими образцами. Электроны проходят через образец, и, в зависимости от его структуры и состава, создается изображение, которое фиксируется детектором. Этот процесс позволяет получить информацию о кристаллической структуре, дефектах, границах зерен, фазах и многом другом.
Принцип работы микроскопа TEM-120 основан на просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) – карта образца формируется за счет облучения пучком электронов исследуемой области и последующим получением изображения тонкого среза. В отличие от световой микроскопии, которая использует видимый свет, ПЭМ позволяет достигать значительно более высокого разрешения, что делает возможным изучение деталей на уровне атомов и молекул.
В качестве образца в ПЭМ используется тонкий срез материала, который способен пропустить через себя пучок электронов. Образец устанавливается на предметный столик в камеру образцов и облучается электронной пушкой. Пушка является источником электронов, который генерирует пучок когерентных электронов. Для фокусировки и направления пучка электронов через образец используется система электромагнитных линз. Детектор системы регистрирует электроны, прошедшие через образец, и формирует изображение.
ПЭМ микроскоп TEM-120 может получать изображения с разрешением в доли нанометров, что позволяет видеть детали образца на уровне атомов и молекул. Система оснащена сверхъяркой электронной пушкой, обеспечивающей высочайшую стабильность, когерентность и яркость электронного пучка для получения изображений высокого разрешения.
Электромагнитная линза системы обеспечивает превосходный контраст и высокое разрешение изображения.
ПЭМ микроскоп TEM-120 может быть использована для проведения элементного EDS анализа, а также анализа химического состава образцов с помощью спектроскопии потерь энергии электронов (спектроскопия характеристических потерь энергии электронов СХПЭЭ, или с англ. Electron energy loss spectroscopy EELS).
ПЭМ микроскоп TEM-120 имеет высокостабильный высоковольтный источник питания с низким уровнем пульсаций, обеспечивающий автоматическое управление высоким ускоряющим напряжением до 120кВ и стабильную эмиссию электронного пучка.
Высокочувствительная КМОП-камера системы обладает высоким разрешением позволяет фиксировать мельчайшие детали образца даже при низких ускоряющих напряжениях, минимизируя физическое повреждение образца при облучении пучком электронов пушки.
Частицы золота 120kV_4Kx4K КМОП-камера |
Алюминий |
Титанат стронция 120kV_4Kx4K КМОП-камера |
Вирус папилломы человека 120kV_4Kx4K КМОП-камера |
Аденовирус 120kV_4Kx4K КМОП-камера |
Срезы печени мыши 120kV_4Kx4K КМОП-камера |
Компания ЭМТИОН осуществляет поставку, пусконаладку и сервис ПЭМ микроскопов, включая гарантийное и сервисное обслуживание, поставку запчастей, сервисную техническую поддержку при работе с системой.
Высококонтрастная версия | Версия с высоким разрешением | |
Ускоряющее напряжение | 10-120 кВ | 10-120 кВ |
Тип катода | Термополевой катод типа Шоттки | |
Предельно допустимое разрешение | 0.20 нм | 0.14 нм |
Предельное разрешение в точке | 0.36 нм | 0.30 нм |
Увеличение | 10 – 1.200.000 x | 10 – 1.500.000 x |
Разрешение CMOS камеры | 4096 x 4096 | 4096 x 4096 |
Угол наклона столика образцов | -90°~+90° | -70°~+70° |
Опции | ЭДС детектор (EDS), ПЭМ детектор (STEM), CMOS камера с высоким разрешением, СХПЭЭ детектор (EELS спектроскопия потерь энергии электронов), криоприставка (криобокс) |
Энергодисперсионная спектроскопия EDS (система микроанализа) обеспечивает возможность проведения элементного […]
Запрос цены Подробнее