Просвечивающий электронный микроскоп TEM-120 - ЭМТИОН
Просвечивающий электронный микроскоп TEM-120

ЭМТИОН

ПЭМ микроскоп с разрешением 0.14 нм

Описание Просвечивающий электронный микроскоп TEM-120

 

Просвечивающий электронный микроскоп TEM-120 – это новейшее поколение ПЭМ микроскопов, разработанное полностью в Китае, работающих на базе метода сканирующей трансмиссионной электронной микроскопии (ПЭМ, СТЭМ или с англ. scanning transmission electron microscope, STEM). ПЭМ микроскоп работают на базе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими срезами образцов и позволяет получать информацию о топографии, кристаллической структуре образца, дефектах, элементному составу и многом другом. Микроскоп TEM-120 используется при проведении исследований в R&D лабораториях, ВУЗах, научных и профильных предприятиях в полупроводниковой промышленности, биологии, материаловедении и др. областях.

 

 

Основные принципы работы ПЭМ

 

ПЭМ работают на основе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими образцами. Электроны проходят через образец, и, в зависимости от его структуры и состава, создается изображение, которое фиксируется детектором. Этот процесс позволяет получить информацию о кристаллической структуре, дефектах, границах зерен, фазах и многом другом.

 

 

Принцип работы ПЭМ микроскопа TEM-120

 

Принцип работы микроскопа TEM-120 основан на просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) – карта образца формируется за счет облучения пучком электронов исследуемой области и последующим получением изображения тонкого среза. В отличие от световой микроскопии, которая использует видимый свет, ПЭМ позволяет достигать значительно более высокого разрешения, что делает возможным изучение деталей на уровне атомов и молекул.

 

 

Устройство ПЭМ микроскопа TEM-120

 

В качестве образца в ПЭМ используется тонкий срез материала, который способен пропустить через себя пучок электронов. Образец устанавливается на предметный столик в камеру образцов и облучается электронной пушкой. Пушка является источником электронов, который генерирует пучок когерентных электронов. Для фокусировки и направления пучка электронов через образец используется система электромагнитных линз. Детектор системы регистрирует электроны, прошедшие через образец, и формирует изображение.

 

 

 

 

Чрезвычайно высокое разрешение

 

ПЭМ микроскоп TEM-120 может получать изображения с разрешением в доли нанометров, что позволяет видеть детали образца на уровне атомов и молекул. Система оснащена сверхъяркой электронной пушкой, обеспечивающей высочайшую стабильность, когерентность и яркость электронного пучка для получения изображений высокого разрешения.

 

 

Высочайший контраст

 

Электромагнитная линза системы обеспечивает превосходный контраст и высокое  разрешение изображения.

 

 

Анализ химического состава

 

ПЭМ микроскоп TEM-120 может быть использована для проведения элементного EDS анализа, а также анализа химического состава образцов с помощью спектроскопии потерь энергии электронов (спектроскопия характеристических потерь энергии электронов СХПЭЭ, или с англ. Electron energy loss spectroscopy EELS).

 

 

Сверхвысокое ускоряющее напряжение

 

ПЭМ микроскоп TEM-120 имеет высокостабильный высоковольтный источник питания с низким уровнем пульсаций, обеспечивающий автоматическое управление высоким ускоряющим напряжением до 120кВ и стабильную эмиссию электронного пучка.

 

 

Высочайшая детализация изображения при низких ускоряющих напряжениях

 

Высокочувствительная КМОП-камера системы обладает высоким разрешением позволяет фиксировать мельчайшие детали образца даже при низких ускоряющих напряжениях, минимизируя физическое повреждение образца при облучении пучком электронов пушки.

 

 

Преимущества

 

  • Пространство электронного микроскопа и рабочее пространство разделены, чтобы уменьшить вмешательство человека, повысить безопасность и обеспечить удобство использования.
  • Управление каждым модулем тесно интегрировано в ПК, а полностью китайский программный интерфейс понятен с первого взгляда, что повышает эффективность работы.
  • Множество интерфейсов и аксессуаров, позволяющих удовлетворить различные потребности пользователей

 

 

Примеры визуализации объектов на TEM-120

 

Частицы золота
120kV_4Kx4K КМОП-камера

Алюминий
120kV_4Kx4K КМОП-камера

 

Титанат стронция
120kV_4Kx4K КМОП-камера
Вирус папилломы человека
120kV_4Kx4K КМОП-камера

 

Аденовирус
120kV_4Kx4K КМОП-камера
Срезы печени мыши
120kV_4Kx4K КМОП-камера

 

 

Компания ЭМТИОН осуществляет поставку, пусконаладку и сервис ПЭМ микроскопов, включая гарантийное и сервисное обслуживание, поставку запчастей, сервисную техническую поддержку при работе с системой.

 

Высококонтрастная версия Версия с высоким разрешением
Ускоряющее напряжение 10-120 кВ 10-120 кВ
Тип катода Термополевой катод типа Шоттки
Предельно допустимое разрешение 0.20 нм 0.14 нм
Предельное разрешение в точке 0.36 нм 0.30 нм
Увеличение 10 – 1.200.000 x 10 – 1.500.000 x
Разрешение CMOS камеры 4096 x 4096 4096 x 4096
Угол наклона столика образцов -90°~+90° -70°~+70°
Опции ЭДС детектор (EDS), ПЭМ детектор (STEM), CMOS камера с высоким разрешением, СХПЭЭ детектор (EELS спектроскопия потерь энергии электронов), криоприставка (криобокс)

Может быть полезно:

Системы энергодисперсионного микроанализа (EDS)

Энергодисперсионная спектроскопия EDS (система микроанализа) обеспечивает возможность проведения элементного […]

Запрос цены Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы