Измерение тонких пленок
Dandong Tongda Science&Technology Co.,Ltd (Tongda)
Сканирование тонких пленок
Описание Измерение тонких пленок
Опция для исследования тонких пленок и многослойных структур с использованием специальной приставки при геометрии скользящего пучка.
На рисунке знаком * обозначен пик подложки. Остальные пики — дифракционные пики грани пленки (001). Требования к испытаниям: необходимо точно определить угол смещения подложки
 |
Тест сканирование θ-2θ |
|
|
ω скан пленки (также известный как анализ скользящим пучком)
ω скан дифракционного пика пленки (0,0,10)
|
Зеркало Гобеля для XRD измерений
| Тип системы | Съемный модуль |
| Тип крепления | Крепление модуля осуществляется к гониометру, установленного в рентгеновском дифрактометре |
| Материал мишени | Медь (Cu) |
| Расхождение лучей | 0.4 mrad |
| Геометрия лучей | Параллельная |
| Фокусное расстояние | 100 мм |
| Длина | 60 мм |
| Ширина | 20 мм |
| Глубина | 10 мм |
| Пиковое отражение | 70% |
Каталог порошковые дифрактометры Tongda
ЗагрузитьМожет быть полезно:
Автоматический сменщик образцов
Автоматический сменщик образцов (автосменщик или автосемплер) позволяет работать с […]
Запрос цены Подробнее
Монокристальный дифрактометр
Представители серии TD, производительность которых идет в ногу со […]
Запрос цены Подробнее