TipsNano
Калибровочные моноатомные ступени, ось: Z
Калибровочный образец на основе 6H-SiC (0001) предназначен для калибровки вертикального перемещения сканера АСМ с интервалом в субнанометр. Простота процесса калибровки обеспечивается практически равномерным распределением высоких (0,75 нм) ступеней по поверхности образца, демонстрирующих химическую и механическую стабильность. Высота шага соответствует половине постоянной решетки кристалла 6H-SiC в направлении [0001].
Рис. 1. 3D АСМ изображение 10×10 мкм | Рис. 2. АСМ изображение 1,6×1,6 мкм |
Рис.3 Профиль
Для калибровки движения сканера АСМ вдоль оси Z необходимо выполнить следующие операции:
Подходит для атомно-силовых микроскоп в том числе серии NTEGRA, SPECTRA и других.
Магазин расходных материалов можно посетить здесь
Размер чипа – 5х5х0,3 мм3
Среднее расстояние между шагами – 0,15-0,4 мкм
Разориентация поверхности ~ 0,2 °
Высота одного шага 0,75 нм
Средняя шероховатость области между ступенями (террасами) – 0,09 нм
Калибровочная решетка TGZ1 для вертикальной калибровки (высота ступенек 20±2нм) […]
Запрос цены ПодробнееNSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии NSG01 предназначены для […]
Запрос цены Подробнее