Фильтры
Подготовка образцов, усиление контраста и влияние заряда поверхности в РЭМ
Механизм образования заряда Потоки электронов в случае непроводящего […]
Подробнее
Спектроскопия характеристических потерь энергии отраженных электронов
Поверхность образца по технологии (R)EELS* подвергается воздействию генерируемых […]
Подробнее
Рамановская спектроскопия
В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]
Подробнее
Многопроходные Методики
Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]
Подробнее
Амплитудно-модуляционная АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]
Подробнее
HPC технология – полосовые X-RAY детекторы
Все матричные (полосовые) рентгеновские детекторы, […]
Подробнее
Магнито-оптика высокого разрешения
Магнито-оптика является надежным и широко применяемым методом для исследования […]
Подробнее
Классификация электронных колонн в растровой электронной микроскопии (РЭМ)
В статье приводится подробное описание конструкции двух источников электронов […]
Подробнее
Элементный анализ в растровой электронной микроскопии (РЭМ)
Основы энергодисперсионного анализа Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS) применяется […]
Подробнее
Спектроскопия рассеяния медленных ионов
Наибольшая чувствительность в процессах элементного и количественного анализа […]
Подробнее
.png)