Описание Просвечивающий электронный микроскоп TH-F120

Просвечивающий электронный микроскоп TH-F120 – это новейшее поколение ПЭМ микроскопов, разработанное полностью в Китае, работающих на базе метода сканирующей трансмиссионной электронной микроскопии (ПРЭМ, СТЭМ или с англ. scanning transmission electron microscope, STEM). ПЭМ микроскоп работают на базе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими срезами образцов и позволяет получать информацию о топографии, кристаллической структуре образца, дефектах, элементному составу и многом другом. Микроскоп TH-F120 используется при проведении исследований в R&D лабораториях, ВУЗах, научных и профильных предприятиях в полупроводниковой промышленности, биологии, материаловедении и др. областях.

Основные принципы работы ПЭМ

ПЭМ работают на основе взаимодействия высокоэнергетичных электронов с тонкими образцами. Электроны проходят через образец, и, в зависимости от его структуры и состава, создается изображение, которое фиксируется детектором. Этот процесс позволяет получить информацию о кристаллической структуре, дефектах, границах зерен, фазах и многом другом.

Принцип работы ПРЭМ микроскопа TH-F120

Принцип работы микроскопа TH-F120 основан на просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) – карта образца формируется за счет облучения пучком электронов исследуемой области и последующим получением изображения тонкого среза. В отличие от световой микроскопии, которая использует видимый свет, ПЭМ позволяет достигать значительно более высокого разрешения, что делает возможным изучение деталей на уровне атомов и молекул.

Устройство ПРЭМ микроскопа TH-F120

В качестве образца в ПРЭМ используется тонкий срез материала, который способен пропустить через себя пучок электронов. Образец устанавливается на предметный столик в камеру образцов и облучается электронной пушкой. Пушка является источником электронов, который генерирует пучок когерентных электронов. Для фокусировки и направления пучка электронов через образец используется система электромагнитных линз. Детектор системы регистрирует электроны, прошедшие через образец, и формирует изображение.

Чрезвычайно высокое разрешение

ПРЭМ микроскоп TH-F120 может получать изображения с разрешением в доли нанометров, что позволяет видеть детали образца на уровне атомов и молекул. Система оснащена сверхъяркой электронной пушкой, обеспечивающей высочайшую стабильность, когерентность и яркость электронного пучка для получения изображений высокого разрешения.

Высочайший контраст

Электромагнитная линза системы обеспечивает превосходный контраст и высокое  разрешение изображения.

Анализ химического состава

ПЭМ микроскоп TH-F120 может быть использована для проведения элементного EDS анализа, а также анализа химического состава образцов с помощью спектроскопии потерь энергии электронов (спектроскопия характеристических потерь энергии электронов СХПЭЭ, или с англ. Electron energy loss spectroscopy EELS).

Сверхвысокое ускоряющее напряжение

ПЭМ микроскоп TH-F120 имеет высокостабильный высоковольтный источник питания с низким уровнем пульсаций, обеспечивающий автоматическое управление высоким ускоряющим напряжением до 120кВ и стабильную эмиссию электронного пучка.

Высочайшая детализация изображения при низких ускоряющих напряжениях

Высокочувствительная КМОП-камера системы обладает высоким разрешением позволяет фиксировать мельчайшие детали образца даже при низких ускоряющих напряжениях, минимизируя физическое повреждение образца при облучении пучком электронов пушки.

Компания ЭМТИОН осуществляет поставку, пусконаладку и сервис ПЭМ/ПРЭМ микроскопов, включая гарантийное и сервисное обслуживание, поставку запчастей, сервисную техническую поддержку при работе с системой.