Описание NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных задач в области сканирующей зондовой микроскопии. Устройство способно выполнять более 40 методик измерений, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Можно проводить эксперименты на воздухе, а также в жидкостях и в контролируемой среде.

Пример атомарного разрешения на высокоориентированном пиролитическом графите

Слева-направо: скан 2нм х 2нм со сканером 1мкм; 3нм х 3нм со сканером 100мкм

Электроника нового поколения обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта функция является основной для работы с высокочастотными АСМ методами.

В NTEGRA Prima реализовано несколько типов сканирования: сканирование образцом, сканирование зондом и двойное сканирование. В связи с этим система идеально подходит для исследования небольших образцов со сверхвысоким разрешением (атомно-молекулярный уровень), а также для больших образцов и диапазона сканирования до 100x100x10 мкм.

Уникальный режим DualScan позволяет исследовать еще большие поля на поверхности (200×200 мкм для X, Y и 22 мкм для Z), что может быть полезно, например, для живых клеток и компонентов MEMS.

Встроенные трехосевые датчики управления с обратной связью отслеживают реальное смещение сканера и компенсируют неизбежные недостатки пьезокерамики, такие как нелинейность, ползучесть и гистерезис. Датчики, используемые NT-MDT, имеют самый низкий уровень шума, что позволяет работать с замкнутым контуром управления на очень маленьких полях (до 10×10 нм). Это особенно ценно для проведения режимов наноманипуляции и литографии. NTEGRA Prima имеет встроенную оптическую систему с разрешением 1 мкм, которая позволяет получать изображения процесса сканирования в режиме реального времени.

Комплексное исследование материалов

Изображение углеродных нанотрубок на кремниевой подложке. Слева-направо: топография, распределение тока и жесткости. Размер скана 1мкм х 1мкм

Растровый наномеханический анализ (HYBRID 3.0). Одновременное измерение карт топографии, адгезии и модуля Юнга.

Применение нерезонансной методики RNMA для картирования одновременно с топографией адгезионных свойств (слева) и модуля Юнга (справа). Образец полистирол в полибутадиене, размер изображения 5мкм х 5 мкм.

ПРИМЕНЕНИЕ:

• Биология и Биотехнология (Протеины, ДНК, вирусы, бактерии, эукариоты, ткани)
• Материаловедение (Морфология поверхности, локальные механические, пьезоэлектрические, адгезионные и трибологические характеристики)
• Магнитные Материалы (Доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля)
• Полупроводники (Морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев)
• Полимеры и Тонкие Органические Пленки (Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки)
• Запоминающие среды и устройства (CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи)
• Наноматериалы (Нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы)
• Наноструктуры (Фуллерены, нанотрубки, нанокапсулы)
• Наноэлектроника (Квантовые точки)
• Нанообработка (АСМ литография: силовая (наногравировка и наночеканка), токовая (Локальное анодное оксидирование), СТМ литография)
• Наноманипуляции (Перемещение и ориентирование нанообъектов)

Оборудование поверено и внесено в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 84445-22.