Отчет по участию ЭМТИОН в международной конференции SPM-2019-RCWDFM

Команда ЭМТИОН и NT-MDT (Нидерланды) приняли участие в 3-ей Международнаой конференции “Сканирующая зондовая микроскопия (SPM2019)”, 4-ом Российско-Китайском семинаре по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам, Международной молодежной конференции “Функциональная визуализация наноматериалов”, которые проходили 25 – 28 августа 2019 г. в и Уральском Федеральном Университете им. первого президента Б. Н. Ельцина.

Демо стенд ЭМТИОН:

Посетители конференции  ознакомились с новейшими разработками NT-MDT (Нидерланды) на примере усовершенствованной модели многофункционального атомно-силового микроскопа NTEGRA, представленного на стенде ЭМТИОН. Показаны измерения в том числе топографии и доменной структуры образцов ниобата лития. Не смотря на полевые (много внешнего шума) условия измерений, прибор продемонстрировал высокую стабильность работы.

Доклад ЭМТИОН:

Исполнительный директор к.т.н. Краснобородько С. выступил с докладом на тему: “Современные методы атомно-силовой микроскопии”, в докладе показаны наработки NT-MDT (Нидерланды), в том числе:

• Новое поколение цифровой электроники: улучшенные алгоритмы быстрого сканирования; растровый наномеханический анализ(RNMA mode); прямой доступ к 18 АСМ сигналам;
• Автоматизированная настройка АСМ головки: автоматизация процесса для рутинных измерений; Возможность настройки параметров головки через ПО (в том числе при работе в вакууме);
• Новое поколение оптических АСМ головок: новый дизайн АСМ оптической головки с возможностью эффективной засветки и сбора лазерного излучения через объектив в геометриях: “сбоку”, “снизу” и “сверху”;
• Комбинация с Раман спектрометром: спектрометр с автоматическим переключением до 5 лазеров и возможностью работы в широком диапазоне от УФ до ИК; Быстрое лазерное сканирование с использованием гальванозеркал;

Доклад вызвал широкий интерес среди пользователей и работников АСМ индустрии.

Больше информации доступно по ссылке