Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец переменного электрического поля и анализе результирующих колебаний его поверхности под зондом [1]. Методика доступна во всех конфигурациях АСМ NTEGRA 

 

 

Пример исследования титаната бария с помощью NTEGRA (метод PFM). Размер изображений 10×10 мкм. Представлены карты амплитуды (a), (с) и фазы (b), (d) вертикальной и латеральной компоненты пьезоотклика соответственно.

 

Ссылки:

1. M. Alexe, A. Gruverman (Eds.). Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials. Scanning Probe Microscopy Approach. Springer, 2004.